Semiconductor Test Case
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Prototype IC Pin Function Automated Test System for Fabless Lab.
Prototype IC Pin Function Automated Test System for Fabless Lab.
Prototype IC Pin Function Automated Test System for Fabless Lab.
Prototype IC Pin Function Automated Test System for Fabless Lab.
Prototype IC Pin Function Automated Test System for Fabless Lab.
IC 반도체 칩을 디자인하는 많은 Fabless 기업들은 수 많은 프로토타입 IC의 각 핀에서 정확한 기능이 구현이 되는지 테스트하는 것이 중요합니다.
Digital Multimeter, Oscilloscope, Source Measurement Unit, DAQ, DIO & Counter 등 다양한 기능을 필요로 하는데 Stand-Alone 형태의
계측기는 시스템 통합 및 테스트 자동화를 구축하는데 적합한 구성이 아닙니다. 이에 고객의 IC 시료를 자동 테스트하는 시스템을 구축하기 위해
PXI System을 기반으로 통합 테스트 베드를 구축한 사례입니다.
구성 개요 : PXI Platform 기반의 DMM, Scope, SMU, DAQ 기반 구성과 통합 소프트웨어 개발
하드웨어 : NI PXI System ｜ 소프트웨어 : LabVIEW 기반 개발 프로그램
IC 반도체 칩을 디자인하는 많은 Fabless 기업들은 수 많은 프로토타입 IC의 각 핀에서 정확한 기능이 구현이 되는지 테스트하는 것이 중요합니다.
Digital Multimeter, Oscilloscope, Source Measurement Unit, DAQ, DIO & Counter 등 다양한 기능을 필요로 하는데 Stand-Alone 형태의 계측기는 시스템 통합 및 테스트 자동화를 구축하는데 적합한 구성이 아닙니다.
이에 고객의 IC 시료를 자동 테스트하는 시스템을 구축하기 위해 PXI System을 기반으로 통합 테스트 베드를 구축한 사례입니다.
구성 개요 : PXI Platform 기반의 DMM, Scope, SMU, DAQ 기반 구성과
통합 소프트웨어 개발
하드웨어 : NI PXI System ｜ 소프트웨어 : LabVIEW 기반 개발 프로그램
IC 반도체 칩을 디자인하는 많은 Fabless 기업들은 수 많은 프로토타입 IC의 각 핀에서 정확한 기능이 구현이 되는지 테스트하는 것이 중요합니다.
Digital Multimeter, Oscilloscope, Source Measurement Unit, DAQ, DIO & Counter 등 다양한 기능을 필요로 하는데Stand-Alone 형태의 계측기는 시스템 통합 및 테스트 자동화를 구축하는데 적합한 구성이 아닙니다. 이에 고객의 IC 시료를 자동 테스트하는 시스템을 구축하기 위해 PXI System을 기반으로 통합 테스트 베드를 구축한 사례입니다.
구성 개요 : PXI Platform 기반의 DMM, Scope, SMU, DAQ 기반 구성과 통합 소프트웨어 개발
하드웨어 : NI PXI System ｜ 소프트웨어 : LabVIEW 기반 개발 프로그램
Extreme Ultraviolet Lithography Equipment(EUV) Parts Maintenance
Extreme Ultraviolet Lithography Equipment(EUV) Parts Maintenance
Extreme Ultraviolet Lithography Equipment(EUV) Parts Maintenance
Extreme Ultraviolet Lithography Equipment(EUV) Parts Maintenance
Extreme Ultraviolet Lithography Equipment(EUV) Parts Maintenance
극자외선 노광기 EUV의 유지보수 또는 수리절차는 네덜란드 ASML 본사가 위치한 네덜란드에서만 진행되기 때문에 부품의 수리나 보수가 필요한 경우
네덜란드 국외에 위치한 수 많은 반도체 제조 라인의 경우 무조건 1:1 교환만으로 진행해 왔습니다.
최근 국내 반도체 클러스터에 연구센터를 설립한 ASML은 네덜란드가 아닌 로컬에서 직접 유지보수할 부품 리스트를 확인하고 시범적으로 유지보수를
위한 엔지니어 인력과 설비를 확보하는데 투자하고 있으며 이에 DAQ, Oscilloscope, DMM 등의 기본 계측기를 공급한 사례입니다.
구성 개요 : NI DAQ, TEKTRONIX Oscilloscope 등
극자외선 노광기 EUV의 유지보수 또는 수리절차는 네덜란드 ASML 본사가 위치한 네덜란드에서만 진행되기 때문에 부품의 수리나 보수가 필요한 경우 네덜란드 국외에 위치한 수 많은 반도체 제조 라인의 경우 무조건 1:1 교환만으로 진행해 왔습니다.
최근 국내 반도체 클러스터에 연구센터를 설립한 ASML은 네덜란드가 아닌 로컬에서 직접 유지보수할 부품 리스트를 확인하고 시범적으로 유지보수를 위한 엔지니어 인력과 설비를 확보하는데 투자하고 있으며 이에 DAQ, Oscilloscope, DMM 등의 기본 계측기를 공급한 사례입니다.
구성 개요 : NI DAQ, TEKTRONIX Oscilloscope 등
극자외선 노광기 EUV의 유지보수 또는 수리절차는 네덜란드 ASML 본사가 위치한 네덜란드에서만 진행되기 때문에 부품의 수리나 보수가 필요한 경우 네덜란드 국외에 위치한 수 많은 반도체 제조 라인의 경우 무조건 1:1 교환만으로 진행해 왔습니다.
최근 국내 반도체 클러스터에 연구센터를 설립한 ASML은 네덜란드가 아닌 로컬에서 직접 유지보수할 부품 리스트를 확인하고 시범적으로 유지보수를 위한 엔지니어 인력과 설비를 확보하는데 투자하고 있으며 이에 DAQ, Oscilloscope, DMM 등의 기본 계측기를 공급한 사례입니다.
구성 개요 : NI DAQ, TEKTRONIX Oscilloscope 등
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Email : lignsys@lignsys.co.kr ｜ Tel : 031-778-7058
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